| Измеряемые параметры: |
Индуктивность (L), ёмкость (C), сопротивление (R, DCR), тангенс угла потерь (D), добротность (Q), фазовый сдвиг (?) |
| Погрешность: |
0,2 |
| Электрическое сопротивление (от): |
20 Ом |
| Электрическое сопротивление (до): |
200 МОм |
| Разрешение (R): |
1 мОм |
| Электрическая емкость (от): |
200 пФ |
| Электрическая емкость (до): |
200 мкФ |
| Разрешение (C): |
0,01 пФ |
| Индуктивность (от): |
20 мкГн |
| Индуктивность (до): |
2 Гн |
| Разрешение (L): |
1 нГн |
| Частота тест сигнала: |
100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 100 кГц |
| Диапазон частот: |
Фиксированный |
| Особенности: |
Современный дизайн в форме пинцета для измерения параметров SMD-компонентов (tweezers). Режим относительных ?-измерений. Возможность измерения электролитических конденсаторов. ЖК-дисплей, функция удержания показаний на дисплее (Hold). |
| Интерфейс: |
USB |
| Уровень тест сигнала: |
600 мВскз, 1 В |
| Страна: |
ТАЙВАНЬ (КИТАЙ) |
