| Измеряемые параметры: |
Индуктивность (L), тангенса угла потерь (D), добротности (Q), сопротивление (R, DCR), ёмкость (C), испытание p-n переходов |
| Погрешность: |
1 |
| Электрическое сопротивление (от): |
60 Ом |
| Электрическое сопротивление (до): |
20 МОм |
| Разрешение (R): |
0,01 Ом |
| Электрическая емкость (от): |
600 пФ |
| Электрическая емкость (до): |
6 мФ |
| Разрешение (C): |
0,1 пФ |
| Индуктивность (от): |
600 мкГн |
| Индуктивность (до): |
200 Гн |
| Разрешение (L): |
0,1 мкГн |
| Частота тест сигнала: |
100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц |
| Диапазон частот: |
Фиксированный |
| Особенности: |
Современный дизайн в форме пинцета для измерения параметров SMD-компонентов (tweezers). Возможность измерения электролитических конденсаторов. |
| Уровень тест сигнала: |
100 мВ, 500 мВ |
| Страна: |
ТАЙВАНЬ (КИТАЙ) |
